XY-Z Mikroskopie Stage (ISO 6) | XY Schrittmotor, Kugelgewindetrieb, Kreuzrolle | Z manuell | Hub 200 × 200 × M mm, Repro 3 µm, Last 11 kg, Speed 30 mm/s
XY-Z Mehrachs-Portale

782300:265.26

Hochstabile Positionierung für Mikroskopie- und Sensoraufgaben

Das Positioniersystem ermöglicht hochpräzise lineare Bewegungen in X und Y sowie eine optionale Z-Positionierung zur exakten Ausrichtung von Mikroskopen, Kameras oder Sensoren relativ zur Probe. Während die Sensorik ortsfest montiert ist, wird das Objekt mit hoher Stabilität und Wiederholgenauigkeit verfahren. Diese Bewegungsaufgabe ist ideal für bildgebende, optische und sensorbasierte Messverfahren, bei denen Lage, Fokus und Scanposition exakt kontrolliert werden müssen.

Ideal für präzise XY-Scanbewegungen bei ortsfester Prozesskopfhalterung

Optionale Z-Vertikaleinheit zur Fokusverstellung oder Höhenanpassung von Sensoren

Flexible Adaptierbarkeit für Mikroskope, Kameras und Sensorsysteme

Hohe Langzeitstabilität durch innenliegende Motoren, präzise Führungen und steife Mechanik

Wartungsfreies Konzept mit kostenoptimierter Antriebsauslegung

Optionen:

Anpassbare Verfahrwege und Systemabmessungen
Ausführung mit oder ohne Gestell sowie Grundplatte aus Granit oder Aluminium
Reinraumkonfigurationen bis ISO-Klasse 6 (höher auf Anfrage)
Individuelle Kabelführung für Sensor- und Kamerasysteme
Integration in kundenspezifische Gesamtanlagen

Individuelle Erweiterungen und Anpassungen

Das System kann gezielt an unterschiedliche optische, biologische oder sensorische Messaufgaben angepasst werden. Erweiterungen umfassen unter anderem spezielle Sensorhalterungen, Fokusachsen, angepasste Steuerungskonzepte, Reinraumtauglichkeit, Temperatur- oder Vibrationsmanagement sowie mechanische Schnittstellen für kundenspezifische Probenhalter oder Mikroskopaufbauten.

Anwendungsfelder

Halbleiterinspektion und Wafer-Mikroskopie, hochauflösende Licht- und Fluoreszenzmikroskopie, Biotechnologie und Life Science, Zell- und Gewebeanalytik, Lab-on-a-Chip-Inspektion, Mikrofluidik, Material- und Oberflächenanalyse, Sensorcharakterisierung, optische Metrologie, Forschung & Entwicklung

Spezifikationen

782300:265.26		X	Y	Z
Verwendetes Standardsystem		KT310-SM	KT310-SM	manuell
Verfahrweg	[mm]	200	200
Wiederholgenauigkeit unidirektional	[µm]	± 3	± 3
Wiederholgenauigkeit bidirektional	[µm]	± 5	± 5
Positioniergeschwindigkeit	[mm/s]	30	30
Max. Geschwindigkeit	[mm/s]	60	60
Max. Last	[N]	110	110
Breite XY Stage	[mm]	310	310
Länge x Breite x Höhe	[mm]	550 x 315 x 550 mm
Motor		Schrittmotor	Schrittmotor
Antrieb		1214.590/1.8.245.295 P3P	1214.590/1.8.245.295 P3P
Führung		Kreuzrolle	Kreuzrolle
Feedback		Open Loop	Open Loop
Optional features		Anpassbare Verfahrwege und Systemabmessungen, Ausführung mit oder ohne Gestell sowie Grundplatte aus Granit oder Aluminium, Reinraumkonfigurationen bis ISO-Klasse 6 (höher auf Anfrage), individuelle Kabelführung für Sensor- und Kamerasysteme, Integration in kundenspezifische Gesamtanlagen
Reinraum Varianten		bis Reinraum Klasse ISO 6 (höher auf Anfrage)
Beam variants		-
Varianten Magnetismus		magnetisch
Varianten Vakuum		auf Anfrage

Änderungen vorbehalten. Werte gelten für Einzelachsen mit unseren Controllern. Hier angegeben sind typische Werte für eine Standardausführung. Durch individuelle Anpassungen und bei genauer Kenntnis Ihrer Anwendung können deutlich verbesserte Werte erreicht werden.