XYZ-Versteller für die Inspektion von Chips

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Zur Durchleuchtung von Wafern

Dieses System wurde für die Inspektion von Chips auf einem 5-Zoll-Wafer konstruiert. Das bei dieser Aufgabe zur Anwendung kommende Messprinzip mit Durchleuchtung verlangte Zugänglichkeit des Wafers von beiden Seiten. Eine Sensormatrix steht dabei einer Strahlungsquelle gegenüber. Für jeden Chip ist ein Sensor vorgesehen. Mit dem Manipulator kann der Wafer um bis zu 10 mm in der Ebene und auch vertikal verfahren werden. Diese Wege sind ausreichend, um alle auf dem Wafer befindlichen Chips gleichzeitig zu vermessen und deren Fläche abzurastern. Durch das gleichzeitige Messen aller Chips wird eine enorme Steigerung des Durchsatzes erreicht. Für das Beladen und Fokussieren wird für die Vertikalbewegung ein Verfahrweg von 10 mm realisiert. Als Antriebe werden sehr kompakte DC-Motor-Getriebekombinationen verwendet, welche auf vorgespannte Gleitgewinde wirken.

Ansprechpartner Deutschland Nord

Tobias Zilian

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tobias.zilian(at)steinmeyer.com

Ansprechpartner Deutschland Süd

Francisco Samuel

Tel.: +49 (0) 351 88585-85

francisco.samuel(at)steinmeyer.com