3D-Scanner für EMV-Messung von Hochfrequenzelektronik
Inspektion und Mikroskopie

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3D-Scanner für EMV-Messung von Hochfrequenzelektronik - Inspektion und Mikroskopie

Diese Maschine wird von uns vollständig montiert und in Betrieb genommen. Im Inneren befindet sich ein Gantry, welches eine Vertikalachse mit Dreheinheit trägt. Der hochempfindliche Feldsensor kann im Betrieb durch das System gewechselt werden.

    1. Angepasstes System für Ihr Gesamtkonzept



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Dipl.-Ing. Elger Matthes

Tel.: +49 (0) 351 88585-0

elger.matthes(at)steinmeyer.com