Automatisierte Inspektion von Wafern, Probecards | XY Linearmotor, Profilschiene | Z Kugelgewindetrieb, DC-Motor
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Hochpräzise Qualitätssicherung für Reinraumanwendungen
Dieses Inspektionssystem (hier ohne Abdeckung gezeigt) ist speziell für die automatisierte Qualitätskontrolle großer Wafer, Probecards und Leiterplatten entwickelt. Das Positioniersystem erlaubt die Positionierung entlang zweier linearer Achsen. Eine hochauflösende Kamera bzw. Sensor wird relativ zur Probe verfahren um Geometrien zu prüfen, Messungen auszuführen und spezielle Qualitätsmerkmale zu dokumentieren. Die Steuerung erfolgt über einen separaten Motion-Controller für drei Achsen.
Erhöhter Throughput durch automatisierte und wartungsarme 24/7 Inspektion
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Besonderheiten:
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Anwendungsfelder
Inspektion großer Wafer, Probecards und Leiterplatten, AOI, Qualitätssicherung, Mikroskopie großer Probe, Oberflächenprüfung, Messung von Chip, Messung von Objekten auf komplizierten geometrischen Formen
782300:148.26 | X | Y | Z | |
[mm; deg] | 820 | 820 | 100 | |
[µm; deg] | ± 0.3 | ± 0.5 | ± 0.5 | |
[µm; deg] | ± 0.4 | ± 0.7 | ± 0.7 | |
[µm; deg] | ± 3 | ± 3 | ± 5 | |
[mm/s; deg/s] | 750 | 750 | 150 | |
Max. Beschleunigung | [m/s2] | 15 | 15 | ± 2 |
[N] | 70 | 70 | ± 270 | |
Motor |
| Dynamischer Linearmotor (eisenlos)
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Antrieb |
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Führung |
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Feedback | Motor-Encoder |
Verwendete Standard-Komponenten
PMT160-DC

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Tobias Zilian
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